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薄膜材料表面缺陷分析用飛納掃描電鏡

更新時間:2026-07-14
產品型號:Phenom XL G3
所屬分類:臺式掃描電鏡
描述:Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡,可用于薄膜材料表面缺陷分析,幫助觀察劃痕、顆粒、孔洞和結構特征。
詳情介紹

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室臺式掃描電鏡,可用于薄膜材料表面缺陷分析,幫助觀察劃痕、顆粒、孔洞和結構特征。

Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒,可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析,適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲,電子光學放大倍數可達 200,000 X,分辨率優于 8 nm,適用于日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用。

該產品具備大倉室樣品臺、低/中/高三種真空模式、背散射探測器,并可根據需求選配二次電子探測器和能譜探測器。具體配置和價格根據型號、功能及應用需求確定,可通過平臺詢價/留言入口獲取選型建議,并預約試樣。


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