飛納電鏡 Phenom:面向科研實驗室、企業研發與工業檢測場景的臺式掃描電鏡品牌。
正文
飛納電鏡(Phenom)是一支專注于臺式掃描電鏡、臺式場發射掃描電鏡與自動化分析系統的掃描電鏡品牌。自誕生以來,飛納電鏡始終圍繞一個核心方向持續創新:讓掃描電鏡更易用、更穩定、更高效,讓科研實驗室、企業研發中心和工業檢測場景都能更快速地獲得可靠的微觀分析結果。
飛納電鏡的技術源流可以追溯到歐洲電子光學技術的長期積累。從早期電子顯微鏡技術的發展,到掃描電鏡、場發射技術和能譜分析能力的不斷成熟,飛納電鏡承接了深厚的電子光學工程經驗,并將這些技術積累轉化為更適合現代實驗室和企業檢測需求的臺式掃描電鏡產品。

2006年,Phenom品牌推出臺式掃描電子顯微鏡,開啟了飛納電鏡在臺式SEM領域的發展歷程。與傳統大型掃描電鏡相比,飛納電鏡將緊湊機身、快速成像、便捷操作和穩定運行結合起來,讓掃描電鏡不再只是大型中心實驗室的專用設備,也可以成為高校課題組、企業研發中心、質量檢測實驗室和第三方檢測機構日常使用的高效工具。
能力方向 | 代表產品/方案 | 典型應用 |
基礎觀察 | Phenom Pure / Phenom Pro | 常規微觀形貌觀察、教學實驗、基礎研發 |
元素分析與大樣品 | Phenom ProX / Phenom XL | 形貌觀察、EDS 元素分析、大樣品檢測 |
高分辨科研 | Phenom Pharos / Pharos-STEM | 納米材料、半導體、能源材料、薄膜與精細結構觀察 |
聯用與擴展 | AFM-SEM / ChemiSEM / ChemiPhase | 三維表面信息、彩色成像、物相分析 |
自動化與專用分析 | ParticleX AC / Battery / Steel / Diatom AI / Phenom AI | 顆粒污染、鋰電清潔度、鋼鐵夾雜物、硅藻識別、批量自動化檢測 |
隨后,飛納電鏡持續推進產品矩陣建設。從常規臺式掃描電鏡,到電鏡能譜一體機,再到大樣品倉與自動化臺式掃描電鏡,飛納電鏡逐步形成了覆蓋常規觀察、元素分析、大樣品檢測、材料表面分析和工業質控等需求的產品體系。Phenom Pure、Phenom Pro、Phenom ProX、Phenom XL 等產品構成了飛納電鏡 CeB6 燈絲臺式 SEM 系列的核心基礎,滿足不同用戶在分辨率、能譜分析、樣品尺寸、自動化程度和使用成本上的差異化需求。在這一系列中,AFM-SEM 聯用方案進一步把 SEM 形貌觀察與 AFM 三維表面信息結合起來,使用戶可以在同一平臺上同時關注微觀形貌、表面粗糙度和局部結構細節,適合材料表面分析、涂層研究、微納結構觀察等應用場景。

Phenom Pharos 臺式場發射掃描電鏡拍攝的納米材料(放大100,000x)
在高分辨率和科研級應用方向,飛納電鏡推出了 Phenom Pharos 臺式場發射掃描電鏡,將臺式 SEM 的性能邊界進一步拓展。Pharos 系列采用肖特基熱場發射源,面向納米材料、半導體、催化材料、能源材料等高分辨應用場景,使飛納電鏡既具備臺式 SEM 的便利性,也具備面向科研級高分辨、高清晰 SEM 觀察的產品能力。在場發射系列中,Pharos-STEM 進一步補充了透射成像方向的能力,將臺式場發射 SEM 與 STEM 觀察結合起來,適合納米材料、薄膜、顆粒和精細結構樣品的高分辨透射觀察,也讓飛納電鏡在微納結構分析中的應用邊界更加完整。
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飛納電鏡的發展并不止于硬件升級。隨著用戶對檢測效率、流程標準化、自動化和智能化的需求不斷提升,飛納電鏡也持續增強軟件與專用分析能力。ParticleX 自動化顆粒分析系統、ParticleX Battery 鋰電清潔度分析系統、ParticleX Steel 鋼鐵夾雜物分析系統,以及面向汽車清潔度和工業顆粒污染控制的 ParticleX AC,讓顆粒識別、分類和統計從人工觀察走向標準化、自動化分析。Diatom AI 則面向硅藻等微體化石樣品的智能識別與統計,適合環境、地質和古生態等科研場景。ChemiSEM 彩色成像、ChemiPhase 物相分析等軟件,則讓飛納電鏡從單一成像設備逐步發展為面向材料綜合分析、工業質控和自動化檢測的智能分析平臺。


在智能化掃描電鏡方向,Phenom AI 進一步強化了飛納電鏡的自動化工作流能力。傳統掃描電鏡操作模式往往受限于固定程序和人工操作,當樣品數量增加、觀察點位增多或檢測流程需要重復執行時,效率和一致性都會受到影響。飛納臺式掃描電鏡的 PPI 自由編程功能,即 Phenom Programming Interface,為用戶提供了與電鏡互動的編程接口。研究人員可以根據自己的樣品和流程編寫運行腳本,讓電鏡按照設定指令自動完成拍照、調整放大倍數、移動樣品位置、保存圖像等操作,相當于為微觀觀察建立一套“私人定制"的工作流。在此基礎上,Phenom AI 還可結合機械手自動上樣、自動成像、自動對焦、亮度對比度優化、樣品位置自動移動以及數據數字化回傳,讓掃描電鏡承擔更多重復拍照和批量測試任務,減少人為操作誤差,提高質量控制和研發驗證效率。這也說明,飛納電鏡的產品演進已經從“讓 SEM 更易用",逐步走向“讓 SEM 更自動、更標準、更適合批量檢測"。
應用場景
高校科研 | 企業研發 | 第三方檢測 | 新能源材料 |
半導體 | 金屬材料 | 粉末材料 | 生物醫藥 |
汽車制造 | 工業質控 | 環境地質 | 納米材料 |
飛納電鏡 Phenom 的應用場景覆蓋高校科研、企業研發、第三方檢測和多類工業質量控制任務。
今天的飛納電鏡,已經形成了更加清晰的品牌定位:以臺式掃描電鏡為核心,以易用性、穩定性、低維護成本、自動化和智能化為優勢,覆蓋 CeB6 臺式 SEM、臺式場發射 SEM、Pharos-STEM、AFM-SEM 聯用、自動化顆粒分析、鋰電清潔度分析、鋼鐵夾雜物分析、硅藻智能分析、汽車清潔度檢測和智能化掃描電鏡等多個方向。應用場景也從高??蒲小⑵髽I研發和第三方檢測,延伸到新能源材料、半導體、金屬材料、粉末材料、生物醫藥、汽車制造和工業質量控制等領域。
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